EPK测厚仪MINITEST 730

EPK测厚仪MINITEST 730

德国EPK涂镀层测厚仪MINITEST 730为外置型探头，方便用户测量一些拐角、凹槽和读数，根据用户测量要求不同可自由选择F/N/FN探头，zui大可测15mm,精度zui高可达±（1μm+0.75%读值）.

德国EPK涂镀层测厚仪MINITEST 730-特点

-SIDSP使测量不受干扰，测值更加精确

-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误

-温度补偿功能避免温度变化引起的错误

-生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线

-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数

-读数和统计值能单独调出

-超大，背光显示屏，显示内容可180度旋转

-菜单指引操作，25种语言可选

-带IrDA接口，红外线传输数据到打印机和PC

-可下载更新软件

标准配置：                                  

带塑料手提箱，内含：                                                                                  

-MINITEST 720(内置探头)

--或MINITEST 730（外置探头）

-校准套装含校准片和零板

-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语

-2节AA电池

技术数据表 

探头 

特性

F1.5，N0.7，FN1.5

F2

F5，N2.5，FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头，使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理（SIDSP）

精确度

±（1μm+0.75%读值）

±（1.5μm+0.75%读值）

±（5μm+0.75%读值）

重复性

±（0.5μm+0.5%读值）

±（0.8μm+0.5%读值）

±（2.5μm+0.5%读值）

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半径（凸）

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半径（凹，外置探头）

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半径（凹，内置探头）

30mm

30mm

30mm

zui小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下zui大测量速度

每分钟70个读数

主机

型号 

特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

zui多10,000个

zui多10,000个

zui多100,000个

统计值

读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置）

校准程序符合国ji标准和规范

ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

um，mm，cm；mils，inch，thou

操作温度

-10℃-60℃

存放温度

-20℃-70℃

数据接口

IrDA 1.0（红外接口）

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840

ASTM B244，B499，D7091，E376

AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g（内置）/230g（外置）