SURTRONIC粗糙度Surtronic S116

SURTRONIC粗糙度Surtronic S116

显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果；

触摸屏可以四个方向转动，方便不同位置观看测试状态；

数据存储：

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘zui大4G，zui多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源：

充电器 ：USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间：4小时

电池寿命：充电一次可以做2000次测试

待机时间：5000小时

由待机状态到开机测试状态，zui长时间不超过1秒I

自动关机：30秒– 6小时可以自行设置

表面处理参数适合您的应用：

Surtronic S100可以根据您的测量应用计算各种表面光洁度参数，包括：

幅度参数（测量表面偏差的垂直特性）：

Ra（算术平均偏差，以前称为CLA或AA）

Rsk（Skewness）

Rz（平均峰谷高度）

Rv（取样长度内平均线以下的zui大剖面深度）

Rt（轮廓总高度）

Rp（zui大轮廓峰高）

Rz1max（也称为Ry或Rmaz）（Max Peak to valley）

间距参数（测量表面偏差的水平特征）：

RPc（峰值）

RSm（轮廓元素的平均宽度）

混合参数（间距和振幅参数的组合）：

Rmr（材料比）

Rdq - R Delta q（采样长度内轮廓的均方根斜率）

上述参数涵盖了检查润滑，进料速率，应力，摩擦和磨损性能的zui常见要求。

技术指标：

测量范围：200 um 100 um 10 um

分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪

传感器原：电感

测量力：150-300mg

测针针尖半径：标配5 μm (200 μin)

可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式：滑动扫描

校准：

自动软件校准

标准：ISO4287