E+L测量USM-200

产品描述

在整个卷筒宽度上进行非接触式表面重量和厚度测量，适用于薄膜和造纸行业

测量范围：厚度 0.800 μm 或克重 0-800 g/m²

超声波技术，无需额外的保护措施

测量精度高，分辨率高达 0.001 μm

测量方法不受基板高度变化的影响

技术规格

测量范围 0-800 克/平方米

分辨率 0.001 µ

准确性 < ±测量值的0.5%

清仓 40 毫米

通过线 20 毫米 22F-D024N114

22F-D1P5N103

22F-D1P5N113

22F-D2P5N103

22F-D2P5N113

22F-D4P2N103

22F-D4P2N113

22F-D6P0N103

22F-D6P0N113

22F-D8P7N103

22F-D8P7N113

22F-RF010-AL

22F-RF012-BL

22F-RF012-BS

22F-RF021-BL

22F-RF021-BS

22F-RF025-BL

22F-RF026-CL

22F-RF026-CS

22F-RF039-CL

22F-RF039-CS

22F-RF6P0-AL

22F-RF6P0-AS

22F-RF9P5-AL

22F-RF9P5-AS

22F-V1P6N103

22F-V2P5N103

22F-V4P5N103

22F-V6P0N103

22P-D010N103

22P-D012N103