PHOENIX CONTACT测厚仪Surfix B N

PHOENIX CONTACT测厚仪Surfix B N

【Surfix B N价格】德国菲尼克斯涂层测厚仪 |Surfix B N|

技术参数

测量原理

误差

分辨率

显示

Z小面积

详情介绍

【Surfix B N价格】德国菲尼克斯涂层测厚仪 |Surfix B N|

德国菲尼克斯Surfix P FN涂层测厚仪

的详细介绍

一体统计型

Surfix P FN型        一体统计型适合所有金属基材上的测量

Surfix P F型         一体统计型适合钢铁基材上的测量

Surfix P N型         一体统计型适合有色金属基材上的测量

技术参数

测量原理

1

测量范围

误差

分辨率

显示

zui小面积

zui小曲率半径

1

zui小基体厚度

1

校准

数据统计

数据存储

报警

数据接口

环境温度/表面温度

电源

仪器尺寸

探头尺寸

重量

保护级别

符合标准

F性：电磁

N型：涡流

0～1500μm

±（1μm +3%）

0.1um或小于读数的千分之二

四位数LCD显示，背景光

5mm×5mm

凸面：3mm

凹面：50mm

F型：0.5mm

N型：50μm

厂家校准、零校准、标准箔校准

读数个数、平均值、标准偏差、zui大值和zui小值，zui多10,000个

zui多80个读数；统计数据

上下限可调，声音报警

红外通讯

0～50℃/150℃

两节5号电池，50小时寿命

140×62×30mm

Φ14×83mm

200g

IP52（防灰尘、防滴水）

DIN、ISO、ATSM、BS

标准配置

主机、 探头、 零板、 标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册

可选配置

PC计算机用的红外线接收器便携式打印机（带红外接收器，Rs232，CENTRONICS）不同厚度的标准箔