HIOKI分析仪IM7581
HIOKI分析仪IM7581

阻抗分析仪 IM7581

100 kHz 至 300 MHz 测量频率阻抗分析仪，测试速度为 0.5 ms

Hioki LCR 仪表和阻抗分析仪的测量范围从 1 mHz 到 3 GHz 设备，适用于电子元件测试中的各种应用。IM7581 在 100 kHz 至 300 MHz 频率范围内提供 0.5 ms 的最佳测量时间，非常适合大批量生产铁氧体片式磁珠和片式电感器。

使用 SMD 测试夹具 IM9201 进行 LCR 测量：阻抗分析仪 IM7580 系列

IM7580 系列仪器包括五种型号，涵盖 1 MHz 至 3 GHz 的测量频率。与可容纳六种 SMD 尺寸的测试夹具 IM9201 结合使用，IM7580 系列仪器使您能够轻松可靠地测量试样。

主要特点

100 kHz 至 300 MHz 测试源频率

最快测试速度为0.5毫秒（模拟测量时间）

±0.72% 读数基本精度

射频 I-V 方法

半机架大小的机身和手掌大小的测试头

全面的接触点检查（通过 DCR 测试、高阻抑制或波形判断）

在分析仪模式下进行频率扫描、液位扫描和时间间隔测量

型号（订货号）

IM7581-01 1 m 连接电缆捆绑

IM7581-02 2 m 连接电缆捆绑

仪器不附带测试夹具或探头。需要专门设计用于阻抗分析仪的测试夹具。

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