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HIOKI分析仪IM3570
HIOKI分析仪IM3570
阻抗分析仪 IM3570
用于高速测试和频率扫描的单器件解决方案Hioki LCR 仪表和阻抗分析仪的器件范围从 1mHz 到 3GHz,适用于电子元件测试中的各种应用。IM3570具有优异的低阻抗可重复性,非常适合用于需要几毫欧的低ESR测量的应用,例如功能性聚合物电容器的测试。
主要特点
使用一台仪器实现连续 LCR/DCR/扫描测量和高速测试
高速测试,在 LCR 模式下实现 1.5ms (1 kHz) 和 0.5ms (100kHz) 的最大速度
高精度测量,Z参数基本精度:±0.08%
完美的阻抗分析仪,用于测试压电元件的谐振特性,功能聚合物电容器的C-D和低ESR测量,电感器(线圈和变压器)的DCR和L-Q测量
在分析仪模式下执行频率扫描、液位扫描和时间间隔测量
型号(订货号)
IM3570
本产品不随附测量探头或测试夹具。请单独选择并购买适合您应用的测量探头或测试夹具选件。对于RS-232C连接:可以使用用于互连的交叉电缆。您可以使用 RS-232C CABLE 9637,无需硬件流量控制。
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