RIFTEK测量系统RF096-15/40-50/70

RIFTEK测量系统RF096-15/40-50/70

该系统用于对具有两个不同直径的通孔的物体进行非接触式扫描和内径测量。

RF096-15/40-50/70

测量范围（第一孔），毫米：

15...40

测量范围（第 2 孔），毫米：

50...70

精度（第一孔），毫米：

±0，02

精度（第 2 个孔），毫米：

±0，005

分辨率，点/周转

6400

阶梯孔内径测量系统

参数名称 价值

测量范围（第一孔），毫米 15...40

测量范围（第 2 孔），毫米 50...70

测量精度，嗯 ±0，02

测量精度，嗯 ±0，005

空间分辨率（点/周转） 6400

光源 红色半导体激光器，660 nm 波长

激光输出功率，mW <1

激光安全等级 2 （IEC60825-1）

激光束形状 圆

输出接口 以太网 （UDP）

电源，V 9...24

功耗， W 4（待机模式）、20（扫描模式）

耐环境性：

  外壳额定值 防护等级 IP67

振动 20克/10...1000Hz，6 小时，每个 XYZ 轴

休克 30 克 / 6 毫秒

允许的环境光，lx 30000

相对湿度 5-95%（无冷凝）

工作环境温度，°С 0...+45

储存温度，°С -20...+70

外壳材料 铝，玻璃

重量（不含电缆），克 1500 克

内径测量系统的操作基于激光旋转传感器对孔表面的扫描。

该系统包含两级测量头，内部有三个激光传感器，图1。

RF096-15/40-50/70 图1

RF096-15/40-50/70 图1

图 1.系统结构

第一级用于测量直径为15...40 mm的孔，并包含一个激光传感器（图1中的传感器#1），测量范围为距头轴6...21 mm。

第二级用于测量直径为50...70 mm的孔，包含两个激光传感器（传感器#2和#3），测量范围为偏移和重叠，距离头轴24...31 mm和30...37 mm。

测量头安装在旋转模块上。

来自传感器的半导体激光器的辐射聚焦到物体表面。表面反射的辐射由传感器的输入透镜收集。旋转激光传感器扫描物体的内表面，系统将表面的极坐标（传感器测量的旋转轴的距离和相应的旋转角度）传输到PC，以计算所需的几何参数。系统的整体尺寸和安装尺寸如图2所示。

RF096-15/40-50/70 图2

图 2.系统的整体和安装尺寸