主营:非接触式振动测量仪、速度和长度传感器、表面测量、动态应力应变测量、微系统与微机电系统分析仪、光谱仪系统
POLYTEC轮廓仪NIR spectrometers
POLYTEC轮廓仪NIR spectrometers
近红外光谱仪
模块化概念,实现可靠的过程监控
模块化概念,实现可靠的过程监控
Polytec PSS 光谱仪为您的 NIR 过程分析问题提供理想的解决方案。二极管阵列检测器技术与传输光栅设计相结合,意味着这些器件可用于快速可靠的数据采集。与光纤耦合组件的灵活组合允许集成到各种测量场景中,以满足用户的要求。得益于标准化的组件,无需在精度和用户友好性方面做出任何妥协。
PSS 光谱仪采用 19“ 插入式外壳,带 110 – 240 VAC 电源,可安装在工业机柜中。此外,还提供带有主动稳定 (10 – 30 VDC) 电源的小型 1/2 19“ 控制器。例如,它们特别适用于收割机上的移动应用。
突出
创新的透射光栅设计
测量时间非常短,测量速率高
卓越的灵敏度和长期稳定性
在整个光谱范围内具有均匀的高光学分辨率
极低的散射光水平
SMA 905 光纤连接器
以太网接口
各种扫描头、光纤和软件模块
光谱仪背面
、不同型号
PSS 1720/1721 和 1750
紧凑型二极管阵列光谱仪(256 或 512 像素)配备 TE 冷却功能,波长范围为 850 nm 至 1650 nm。它们既可以采用 19“ 外壳 (PSS 1720),也可以采用 1/2 19” 外壳。
PSS 2120/2121
这些二极管阵列光谱仪(256 像素)还具有 TE 冷却功能,可在 1100 nm 至 2100 nm 的波长范围内使用。PSS 2120 集成在 19“ 外壳中,而 PSS 2121 集成在 1/2 19” 外壳中。
PSS 2220
该光谱仪还配备了带TE冷却功能的二极管阵列探测器(256像素),适用于1200 nm至2200 nm的波长范围。PSS 2220 采用 19“ 外壳。
技术参数
型 波长范围 住房 探测器 分辨率
PSS 1720
850 到 1650 nm 19" 256 像素 从 < 6.4 nm
PSS 1721
850 到 1650 nm ½ 19" 256 像素 从 < 6.4 nm
PSS 1750
850 到 1650 nm 19" 512 像素 从 < 3.2 nm
PSS 2120
1100 到 2100 nm 19" 256 像素 从 < 7.9 nm
PSS 2121
1100 到 2100 nm ½ 19" 256 像素 从 < 7.9 nm
PSS 2220
1200 到 2200 nm 19" 256 像素 从 < 7.9 nm