POLYTEC轮廓仪TopMap Metro.Lab

POLYTEC轮廓仪TopMap Metro.Lab

TopMap Metro.Lab

使用白光干涉测量的入门级解决方案进行表面表征

使用白光干涉测量进行表面表征

Polytec的TopMap Metro.Lab是一款高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），具有较大的垂直范围和纳米分辨率。这意味着Metro.Lab形貌测量系统非常适合非接触式测量大型表面和结构的平面度，台阶高度和平行度，即使在柔软和精致的材料上也是如此。

TopMap Metro.Lab 是一个完整的测量站，当您想要测量几乎所有表面上的大面积地形时，它是最佳解决方案。70 mm 的大垂直测量范围允许您以亚纳米级分辨率进行测量，即使在困难的条件下也是如此。

由于它物超所值，因此无论您是在计量实验室工作还是在接近生产环境，TopMap Metro.Lab都特别有吸引力。它处理许多您以前使用触觉系统的任务。与所有 TopMap 系统一样，开放式软件架构还使您能够对日常任务进行编程或设置自己的用户界面。

突出

非接触式，由于光学，干涉测量原理

由于远心透镜，也可以在陡峭的部分（例如钻孔）上进行测量

70 mm 范围灵活

快速测量大面积区域

使用增强型版本实现高达约 80 x 80 mm 的大测量区域

易于使用和自动化的软件，生成符合DIN / ISO标准的参数

由于智能表面扫描，几乎适用于所有表面，即使是反射率非常不同的表面

可集成在防尘和减振工作站中，用于机房