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光学单元上下移动的振荡是否会导致测量误差或位移传感器缺陷? |
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这种振荡一直被认为是驱动光学单元的弱点。KEYENCE 开发了一种机制,可以在物理上尽可能地消除这种振荡,并将这种机制安装在我们的 WI-5000 系列 3D 干扰测量传感器中。结果是成功消除了由重心在外壳内移动引起的振荡、由这些振荡引起的测量误差以及导致位移传感器缺陷的负载。该传感器具有高减振效果、稳定测量和高耐用性,可在工地进行无忧安装。 |
即使目标具有不同的材料和颜色,也可以进行稳定的测量吗? |
可以对不同材料和颜色的目标进行稳定测量。WI-5000 系列 3D 干涉测量传感器使用 SLD 光源和专用图像接收元件进行同轴测量,可实现宽动态范围。与设置为漫反射的一般 3D 相机不同,它们不受材料(例如透明、镜面或黑色目标)引起的光反射率变化的影响。3D 轮廓、表面粗糙度和线条粗糙度测量都可以用于各种材料和颜色。不仅对玻璃和黑色橡胶等统一材料和颜色,而且在目标包含不同材料和颜色的组装过程后的检查期间,可以进行稳定且高精度的测量。 |
离线检测是否需要精确的目标定位? |
不会。高速测量的优势在这种情况下完全可以发挥。专用支架使 WI-5000 系列可用于近线检查。在这种情况下,只需将目标放在平台上,位置校正功能就可以进行高速且准确的检查。如果目标大于测量区域,可以使用专用的自动平台,按顺序自动测量指定位置。只需将目标放在平台上,即可通过简单的设置自动测量大面积测量区域,并将结果输出到电子表格软件。 |