主营:指示器,显示器,线性编码器
SIKO 传感器 MSK5000-0011
SIKO 传感器 MSK5000-0011:
一、光栅尺
光栅尺概述:
光栅尺通过摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量的高精度位移传感器。光栅尺主要由:读数头、主尺和接口组成。光栅线位移传感器主要应用于直线移动导轨机构,可实现移动量的精确显示和自动控制,广泛应用于机床加工和仪器的精密测量、金属切削机床加工量的数字显示和CNC加工中心位置环的控制。目前该产品已形成多种系列,品种齐全,制作精巧,技术精良,可供不同规格的各类机床、仪器数字化改造选用,量程从20毫米至3米,几乎覆盖全部金属切削机床的行程。还可根据用户的特殊需要进行特殊制作。
光栅尺的用途:
目前在精密机加工和精密位移测量时常采用光栅尺做为测量传感器,其后面直接接入二次仪表,或数控系统进行位移测量。测量的精度主要有传感器精度决定。
随着电子技术和单片机技术的发展,光栅传感器在位移测量系统将得到更广泛应用,并逐步向智能化方向转化。该测量系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路相结合来完成对位移量的自动测量,它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及误差修正等功能。
应用范围:
1、各类测量机构、仪器的位移测量:弹簧试验机、三坐标机、投影仪、显微镜。
2、各类机床的数显系统:车床、铣床、磨床、镗床、钻床、线切割、火花机等。
3、各类数控机床的配套使用:数控铣、加工中心、数控磨等。
4、可接PC、PLC用于各类自动化机构的位移测量。
Delos系列光栅尺参数:
测量范围: 20mm~3000mm(3m以上用磁栅尺)
有效行程:M(小尺:20—50mm)、W(中尺:50—1000mm)、B(大尺:1100—3000mm)
分辨率:1um(0.001mm)、5um(0.005mm)
零位参考点:每50mm/个(选配)
单向重复精度:2um(0.002mm)
反向重复精度 3um(0.003mm)
栅距:0.02mm 栅线:50线对/mm
反应速度: 120m/min(0.005mm) 20m/min(0.001mm)
工作温度:0-45℃
存储温度:-20℃-70℃
防护等级 :IP53
信号输出: TTL 、EIA-422-A
供应电压: DC 5V ±5% 、24V接PLC专用(需订做)
电缆线长:2.6m (可加长)
读数头滑动系统:垂直式五轴承,滑行畅顺。
光学测量系统:透射式红外线光测量系统,红外线波长880nm。
一、光栅尺
光栅尺概述:
光栅尺通过摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量的高精度位移传感器。光栅尺主要由:读数头、主尺和接口组成。光栅线位移传感器主要应用于直线移动导轨机构,可实现移动量的精确显示和自动控制,广泛应用于机床加工和仪器的精密测量、金属切削机床加工量的数字显示和CNC加工中心位置环的控制。目前该产品已形成多种系列,品种齐全,制作精巧,技术精良,可供不同规格的各类机床、仪器数字化改造选用,量程从20毫米至3米,几乎覆盖全部金属切削机床的行程。还可根据用户的特殊需要进行特殊制作。
光栅尺的用途:
目前在精密机加工和精密位移测量时常采用光栅尺做为测量传感器,其后面直接接入二次仪表,或数控系统进行位移测量。测量的精度主要有传感器精度决定。
随着电子技术和单片机技术的发展,光栅传感器在位移测量系统将得到更广泛应用,并逐步向智能化方向转化。该测量系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路相结合来完成对位移量的自动测量,它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及误差修正等功能。
应用范围:
1、各类测量机构、仪器的位移测量:弹簧试验机、三坐标机、投影仪、显微镜。
2、各类机床的数显系统:车床、铣床、磨床、镗床、钻床、线切割、火花机等。
3、各类数控机床的配套使用:数控铣、加工中心、数控磨等。
4、可接PC、PLC用于各类自动化机构的位移测量。
Delos系列光栅尺参数:
测量范围: 20mm~3000mm(3m以上用磁栅尺)
有效行程:M(小尺:20—50mm)、W(中尺:50—1000mm)、B(大尺:1100—3000mm)
分辨率:1um(0.001mm)、5um(0.005mm)
零位参考点:每50mm/个(选配)
单向重复精度:2um(0.002mm)
反向重复精度 3um(0.003mm)
栅距:0.02mm 栅线:50线对/mm
反应速度: 120m/min(0.005mm) 20m/min(0.001mm)
工作温度:0-45℃
存储温度:-20℃-70℃
防护等级 :IP53
信号输出: TTL 、EIA-422-A
供应电压: DC 5V ±5% 、24V接PLC专用(需订做)
电缆线长:2.6m (可加长)
读数头滑动系统:垂直式五轴承,滑行畅顺。
光学测量系统:透射式红外线光测量系统,红外线波长880nm。