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日本三丰VMU378 系列 — 视像显微镜系统三丰VMU378是一种袖珍、轻型和易于安装的显微镜装置，通常在半导体制造中用于CCD 相机监视
三丰显微镜 FS-70378 系列 — 半导体检测用显微镜• 此光学系统最初是为畅销的 FS60 型 (后升级为 FS70 型) 而开发的。它是作为测量检测半导体器件的显微镜的理想选择。
日本三丰物镜 三丰378 系列三丰378系列物镜的工作距离是世界上最长的并具有无限远补正光学系统。这些物镜能提供高倍率的自由观察和独立的色差补正。长工作距离型物镜使得聚焦时透镜表面与工件表面之间具有极
日本三丰袖珍放大镜183 系列三丰袖珍比较仪特点 适于进行金属表面检测。倍率货号备注 25X 183-201 笔型183-202 带有台架 50X 183-203 带有台架
日本三丰精密量具-显微镜知识数值孔径(NA)数值孔径NA 是决定物镜分辨率、景深、图像亮度的重要数值。数值孔径NA 通过下列公式来表示，其数值越大，就越能得到高分辨率、景深浅的图像。 NA = n ·
Mitutoyo日本三丰显微镜参数知识倍率日本三丰是指光学系统产生的物体放大图像的大小与物体尺寸的比。有横倍率、纵倍率、角倍率等，通常所说的倍率一般是指横倍率而言。
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