4D TECHNOLOGY品牌介绍

4D TECHNOLOGY品牌介绍：

美国4D Technology公司成立于2002年，主要致力于为航天、天文、光学制造、半导体及数据存储等领域开发高精度的检测仪器。该公司的动态相移测量技术改变了传统光学干涉仪器对使用环境的苛刻要求，大大拓宽了仪器的应用范围。目前，4D Technology拥有一支在激光干涉测量、光学仪器、软件开发、质量控制、技术支持方面的专业化团队。其优质的产品和服务赢得了许多企业客户的信赖和认可。

美国4D Technology公司推出的动态激光干涉仪，采用新的瞬时相移干涉技术（SPSI），大大缩短了干涉测量时间，不仅能达到传统相移干涉仪的精度和可靠性，而且无需普通干涉测量必需的防振台；适合于大口径、长焦距光学元件的测量，可以应用于光学系统现场检验、复杂/恶劣环境的光学检验，并能进行连续的动态测量，甚至对光学表面的变化过程进行测量。4D Technology的产品一经推出，便在激光、空间光学、天文光学等领域得到了迅速的应用。

4DTechnology产品系列：

菲索型干涉仪 FizCam系列

口径：100mm 到 800mm                     

包括F1500、F2000、F3000型

适合于平面、球面、凸球面的远程测量

可使用标准菲索镜头

泰曼格林型干涉仪 PhaseCam系列

包括P4020、F5030型，及多波长

适合于长焦距测量，

镜头丰富，便于移动

可扩展用于真空或超快测量

WaveCam系列

用于DVD读写镜头、光纤光束质量

PhaseCamMW 多波长干涉仪

适合于复杂表面测量，如子镜拼接表面等

ESPI 电子散斑干涉仪

适合于非光学表面的形变测量

产品介绍

由于振动或空气湍流干扰, 进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的精确度干涉测量是很困难的。使用所谓的"实时" 相位测量干涉仪经常是碰运气或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的精确度干涉测量的完善的解决方法。进行干涉测量的器件可分别安装在较远并且无防震功能的光学平台, PhaseCam也可以容易得到高质量的测量, 这归功于PhaseCam的快速测量能力使它很容易降低空气湍流产生的影响, 更大量降低了测试周期, 提高生产率。让您不须再因为环境的影响而牺牲了准确度。 

详细参数

PhaseCam NIR系统可进行精确的表面和波前测量，结构紧凑，重量轻，近红外波长（1.053，1.064和1.3微米1:55）。