OLYMPUS超声波探伤仪OmniScan™ X3 64

OmniScan™ X3 64 相控阵和TFM探伤仪，具有高级功能

您可以携带的动力

OmniScan X3 64探伤仪采用经过现场验证的坚固耐用的便携式OmniScan X3外壳，其强大的聚焦功能以及更大的晶片孔径容量支持，使您能够充分利用64晶片相控阵探头和128晶片孔径TFM。利用其增强的性能来应对厚材料OmniScan™ X3 相控阵探伤仪，采用创新型全聚焦聚焦

您可以看到的信心

OmniScan X3探伤仪是一个完整的相控阵工具箱。功能强大的工具，包括全聚焦法 （TFM） 成像和高级可视化功能，以其高图像质量为后盾，使您能够更自信地完成检测。提前确认您的全聚焦功率板束覆盖范围

声学影响图 （AIM） 工具可根据您的 TFM 模式、探头、设置和模拟反射器为您提供灵敏度的即时可视化模型。

AIM 工具消除了创建扫描计划的猜测 - 可视化波形集的影响（TFM 模式），查看灵敏度停止的位置，并相应地调整扫描计划。

查看 PCI 缺少了什么

我们创新的无振幅实时相位相干成像（PCI）可提高低缺陷灵敏度和在嘈杂材料中的穿透力，同时简化您的设置并简化尺寸。OmniScan X3 64探伤仪自MXU 5.10起可用。

虚拟协作，几乎无处不在

X3 远程协作服务 （X3 RCS） 使您能够共享屏幕，允许远程协作者控制设备，并与位于世界几乎任何地方的参与者主持视频会议。

了解有关 X3 RCS 的更多信息

改进、更快的校准

OmniScan X3 校准器可高速跟踪信号。在几分钟内执行多组校准。

熟悉但改进的 OmniScan 体验

拥有或接受过OmniScan培训的用户将很容易过渡到OmniScan X3探伤仪，新用户会发现它很容易学习。

快速教程视频受益于 64 脉冲发生器相控阵

使用OmniScan X3 64探伤仪充分利用64晶片相控阵探头的潜力，提高焦点分辨率。

向右滑动：使用带有64个晶片探头（5L64-A32型号）的32通道OmniScan X3单元采集，该S扫描是高质量的图像，但分辨率反映了只有中间32个晶片可用于焦距定律的事实。

向左滑动：OmniScan X3 64探伤仪采用全64晶片孔径（5L64-A32探头），在焦点处提供更好的PA分辨率，使您能够更轻松地区分紧密相连或成簇的指征。