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主营：涂层测厚仪、漆膜测厚仪、涂膜测厚仪、模块化涂层厚度测量系统、紧凑型手持涂层测厚仪
QNIX测厚仪QuaNix 1200
QNIX测厚仪QuaNix 1200
德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产。早在公司创始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父亲即开始研究。自发明世界上*台测厚仪以来，尼克斯家族经过几代人的努力，为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时，也保持了技术。在仪器的精度和抗干扰性方面，注册了多项。成为当今的*优点。
零位稳定：所有测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
无需校准：多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
温度补偿：涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。
红宝石探头：探头接触点的耐磨性直接影响测量的精度。普通金属接触探头，其表面磨损后会带来很大的误差。
*的直流采样技术：使得测量重复性较传统交流技术有*的优越和提高。
单探头量程大：0－5mm
双功能用途：
AB 1790D-16BV0
AB 1790D-8BV8B
AB 1790D-8BV8V
AB 1790D-N0C2
AB 1790D-N4C0
AB 1790D-T0A6
AB 1790D-T0B16
AB 1790D-T0B32
AB 1790D-T0V16
AB 1790D-T0V32
AB 1790D-T0W6
AB 1790D-T16BV0
AB 1790D-T16BV16B
AB 1790D-T16BV16V
AB 1790D-T32BV0
AB 1790D-T4R0
AB 1790D-T4T0
AB 1790D-T8A0
AB 1790D-T8BV8B
AB 1790D-T8BV8V
AB 1790D-TN0C2
AB 1790D-TN0V2
AB 1790D-TN4C0
AB 1790D-TN4V0
AB 1791DS-IB12
AB 1791DS-IB16
AB 1791DS-IB4XOW4
AB 1791DS-IB8XOB8
AB 1791DS-IB8XOBV4
AB 1791ES-IB16
AB 1791ES-IB8XOBV4
AB 1791ES-ID2SSIR
AB 1794-ACN15
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