PHOENIX CONTACT测厚仪Surfix P F

PHOENIX CONTACT测厚仪Surfix P F

德国菲尼克斯涂层测厚仪|Surfix P F| 【Surfix P F价格】

测量原理F性：电磁

N型：涡流

测量范围0～1500μm

误差±（1μm +3%）

分辨率0.1um或小于读数的千分之二

显示四位数LCD显示，背景光

Z小面积5mm×5mm

Z小曲率半径凸面：3mm

凹面：50mm

Z小基体厚度F型：0.

详情介绍

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一体统计型 Surfix P FN型 一体统计型适合所有金属基材上的测量 Surfix P F型 一体统计型适合钢铁基材上的测量 Surfix P N型 一体统计型适合有色金属基材上的测量

德国菲尼克斯涂层测厚仪|Surfix P F| 【Surfix P F价格】​

技术参数

测量原理F性：电磁

N型：涡流

测量范围0～1500μm

误差±（1μm +3%）

分辨率0.1um或小于读数的千分之二

显示四位数LCD显示，背景光

zui小面积5mm×5mm

zui小曲率半径凸面：3mm

凹面：50mm

zui小基体厚度F型：0.5mm

N型：50μm

校准厂家校准、零校准、标准箔校准

数据统计读数个数、平均值、标准偏差、zui大值和zui小值，zui多10,000个

数据存储zui多80个读数；统计数据

报警上下限可调，声音报警

数据接口红外通讯

环境温度/表面温度0～50℃/150℃

电源两节5号电池，50小时寿命

仪器尺寸140×62×30mm

探头尺寸Φ14×83mm

重量200g

保护级别IP52（防灰尘、防滴水）

符合标准DIN、ISO、ATSM、BS

标准配置

主机、 探头、零板、 标准箔、 电池、 便携软包、 操作手册

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