HIOKI分析仪IM7585

HIOKI分析仪IM7585

阻抗分析仪 IM7585

1MHz 至 1.3GHz 测量频率阻抗分析仪，具有 0.5ms 的测试速度和 0.07% 的可变性Hioki LCR 仪表和阻抗分析仪的测量范围从 1 mHz 到 3 GHz 设备，适用于电子元件测试中的各种应用。IM7585阻抗分析仪在1 MHz至1.3 GHz频率范围内提供0.5 ms的最佳测量时间和出色的稳定性，使其成为铁氧体片式磁珠和片式电感器的研发和大批量生产的理想选择。

使用 SMD 测试夹具 IM9201 进行 LCR 测量

IM7580 系列仪器包括五种型号，涵盖 1 MHz 至 3 GHz 的测量频率。与可容纳六种 SMD 尺寸的测试夹具 IM9201 结合使用，IM7580 系列仪器使您能够轻松可靠地测量试样。

主要特点

1 MHz 至 1.3 GHz 测试源频率

最快测试速度为0.5毫秒（模拟测量时间）

0.07% 测量值变异性（在 1GHz 下测量时）

±0.65% 读数基本精度

射频 I-V 方法

半机架大小的机身和手掌大小的测试头

全面的接触点检查（通过 DCR 测试、高阻抑制或波形判断）

在分析仪模式下进行频率扫描、液位扫描和时间间隔测量

型号（订货号）

IM7585-01 1 m 连接电缆捆绑

IM7585-02 2 m 连接电缆捆绑

仪器不附带测试夹具或探头。需要专门设计用于阻抗分析仪的测试夹具。

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