Qioptiq测量XR2100

Qioptiq测量XR2100

零件/ XR2100, XP750

X-Cite光功率测量系统

X-Cite® 光功率测量系统设计用于测量样本层面的光功率，它以瓦特为单位显示数据，可在整个研究实验过程中提供一致且可重复的照明，还可协助完成设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite XP750传感器，外形小巧纤薄，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对X-Cite显微镜照明器或任何其他落射荧光光源的输出功率进行测量。通过将较宽的动态范围配置到紧凑型传感器中，我们比以往任何时候都更易获得此关键信息。

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宽动态范围

X-Cite XP750经过校准，可用于320 nm至750 nm之间的任何波长，兼容全系列滤光片。对5 µW至500 mW的光功率具有敏感性，因而对于采用高低强度照明的设备均适用，适合用于标准、共聚焦、DSU及其他显微镜配置。

功能多样，使用方便

X-Cite XP750测量的是显微镜载物台上的光线，因此它可对任何落射荧光显微镜光源进行测量，包括HBO/汞、金属卤化物灯、氙灯、激光器和LED等。X-Cite XR2100有数百种波长可选，允许您定义“最喜欢的波长”，对应您常用的光源和滤光片。

可重复性测量结果

X-Cite以绝对单位（瓦）测量和记录输出功率，可保证实验中使用的照明水平总是可以重复的，而无需顾及光源、光导管、滤光片和其他光学元件如何变化。这种独特的功能对于减少实验后图像处理时间、进行准确定量的图像比较以及编制完整的实验文档至关重要。