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TYDEX 滤波器 PDF, 141 KB

品牌: TYDEX 原产地:俄罗斯
发布时间: 2022-07-28 18:06:16
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TYDEX

主营:光谱和测试光学 FTIR分束器、平面和楔形窗、ATR元件、红外偏光镜、离轴抛物面镜、全息陷波和窄陷波滤光片 太赫兹光学 低通滤波器、太赫兹带通滤波器、太赫兹偏振器、太赫兹衰减器、太赫兹法布里-珀罗标准具、太赫兹窗口、太赫兹镜头、太赫兹棱镜、太赫兹波片、可调THz极化转换器、太赫兹宽带相位变压器、太赫兹频谱分离器、太赫兹分束器、太赫兹镜、太赫兹增透膜 高温和热成像光学 应用的正面光学、锗视窗和热成像镜头、ZnSe光学高温计、红外物镜的硅元件、无人机保护红外窗(UAV) 太赫兹设备 脉冲太赫兹光谱仪、Golay探测器、用于运行Golay单元的软硬件复合体、Golay检测器校准套件、太赫兹扫描法布里-珀罗干涉仪、太赫兹物镜、锁相放大器、太赫兹脉冲辐射电光探测器、太赫兹扩束器 传感器和检测器的光学元件 气象和气候光学 高精度天文镜和系统 激光被动光学 二氧化碳激光光学、Nd:YAG激光器的光学元件、UV-VIS-NIR激光器的光学元件 非典型元件

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产品详情

TYDEX生产各种由硅制成的元素。我们确保对滤芯生产的每一步进行强有力的控制,从材料选择到测量所获得的抛光元件参数和涂层特性。这在精密成像系统的制造中尤为重要。下面描述了这种生产用于红外物镜的大型硅光学器件的方法。

Silicon Elements for IR Objective Lenses

该物镜设计用于在两个中间红外波段工作:1.6 - 3.0 mm和3.5 - 5.5 mm。其设计包含 17 个元素:14 个半月板和平面凸透镜,直径从 10 mm 到 210 mm,3 个板的尺寸为 134 x 198 mm。

在制造这种多元件成像设备时,应考虑两个要点:整个系统的透射率和图像失真。这些参数取决于材料质量(i)和表面精度(ii)。下面我们讨论我们控制这些参数的方法(我们不会触及第三个临界点 - 涂层参数)。

材料选择和控制

对于成像系统而言,正确选择材料至关重要。材料中的缺陷会导致图像失真并违反系统操作。这就是为什么如此关注选择材料及其控制的原因。为了提供适当的材料质量,种植了具有特殊参数的硅锭(在工作范围内具有高均匀性和透明度的无位错光学级单晶Cz-Si)。在几个直径为219毫米的所需钢锭准备就绪后,材料的质量(电阻均匀性,位错密度,工作范围内的透射率)正在控制从每个钢锭制备的样品上。这里给出了典型的传输曲线。

Si transmission

 图 1.硅透射率在1.1 - 5.7 mm光谱范围内。样品粗糙度为10毫米。

表面精度控制

如上所述,应该考虑的第二个重要参数是表面误差。现代设备允许对整个表面或其任何部分进行完整的干涉控制。计算机数据处理使我们能够获得有关不同类型错误的详细信息:常规错误(散光,区域误差,昏迷),局部误差,峰谷值等。此外,错误的表示变得容易解释。

对于干涉控制,应用了Fizeau方案,λc= 632.8 nm (氦氧铈激光线).如果表面形状和曲率半径需要,则使用伸缩膨胀机和测量物镜等附加设备。通过测量与测试参考表面相比,从受控表面反射的波前的变形,在相位模式下进行表面形状误差的评估。专用集成软件用于创建相位数据阵列及其进一步的功率多项式近似,以进行表面误差计算。

在这里,我们将这种控制结果作为示例呈现2个表面:1 - 半月板D210 mm透镜的凹面,以及2 - 198 x 134 mm板的平面表面。

半月板镜体误差的干涉测量 D210 mm

受控表面,毫米

测试区域,毫米

测量单位

参考曲面

凹面 R = -206.99

通光孔径 - 中心 D206

微米

常规错误:

D= .080 LX= 2.839 LY= -.013 C= 2.829 有效值(W)= .031

A= .050 国际汽联= .354 有效值(W-A)= .023 FA= .442

B0= -.025 RZ= .037

  有效值(W-Z)= .029 FZ= .131

B2= .149  

B4= -.149  

C= .110 FIC= 164.892 有效值(W-C)= .028 FC= .178

本地错误:

R= .139 均方根(M)= .015

表面参数:

均方根 最小值 麦克斯 R 断续器 断续器

.031 -.144 .092 .237 .964 .988

X : -1.000 .000

Y : .000 -1.000

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