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主营：光谱和测试光学 FTIR分束器、平面和楔形窗、ATR元件、红外偏光镜、离轴抛物面镜、全息陷波和窄陷波滤光片 太赫兹光学 低通滤波器、太赫兹带通滤波器、太赫兹偏振器、太赫兹衰减器、太赫兹法布里-珀罗标准具、太赫兹窗口、太赫兹镜头、太赫兹棱镜、太赫兹波片、可调THz极化转换器、太赫兹宽带相位变压器、太赫兹频谱分离器、太赫兹分束器、太赫兹镜、太赫兹增透膜 高温和热成像光学 应用的正面光学、锗视窗和热成像镜头、ZnSe光学高温计、红外物镜的硅元件、无人机保护红外窗（UAV） 太赫兹设备 脉冲太赫兹光谱仪、Golay探测器、用于运行Golay单元的软硬件复合体、Golay检测器校准套件、太赫兹扫描法布里-珀罗干涉仪、太赫兹物镜、锁相放大器、太赫兹脉冲辐射电光探测器、太赫兹扩束器 传感器和检测器的光学元件 气象和气候光学 高精度天文镜和系统 激光被动光学 二氧化碳激光光学、Nd：YAG激光器的光学元件、UV-VIS-NIR激光器的光学元件 非典型元件
Tydex提供各种衰减全反射率（ATR）元件，用于总内部反射率测量。通常，当样品难以用透射分析时，使用反射光谱。顶置 ATR 系统适用于凝胶、薄膜和细粉分析。难以处理的挥发性或气氛敏感样品使用不同的顶板ATR系统进行分析。它们还用于提供温度敏感分析和聚合物膜迁移，以及表面取向和反应动力学研究。单反射ATR系统用于高吸收和小样品，用于静态或流动分析。
ATR 元素
当红外辐射进入具有较高折射率和良好透射率的材料时，会发生内反射。如果入射角超过临界角（方程1），则能量被与晶体紧密接触的样品吸收。
方程 1 全内反射的条件。
全内反射条件
其中 n1，n2– 两种介质的折射率。
如果系统使用多个反射附件，仪器的光束会一次又一次地反射，并且每次反射都会吸收一些能量。当光束离开晶体到达检测器时，它包含来自样品的光谱数据。因此，可以记录吸收光谱。
以下因素会影响 ATR 谱系：
入射光波长;
样品和ATR晶体的折射率;
切口角;
晶体与样品接触的效率。
ATR晶体由具有高折射率的足够硬的材料制成，晶体配置为允许内反射。样品与ATR晶体保持接触，光谱记录为晶体透射曲线和样品吸收曲线的叠加。
光束路径 ATR 晶体
图1 通过ATR元件的光传播。
Tydex 提供多种几何形状的定制 ATR 组件：梯形、平行四边形、杆和半球。使用各种材料：ZnSe，Ge，Si和蓝宝石。所有材料和产品均符合严格的控制标准，包括光谱特性和一般性能要求以及规格控制。
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