主营:无毛刺切割、激光切割、夹具、X射线测厚仪、X射线涂层测厚仪
定制 OEM 解决方案
量身定制的解决方案
Rayonic开发和制造客户特定的解决方案,围绕X射线的厚度和涂层厚度测量。
Rayonic根据客户的规格和要求开发了4.9 keV的X射线源,用于测量高达160 keV的薄塑料薄膜,用于安装在钢热轧机中,并集成到其测量系统中。
此外,对于特殊组件,例如高功率X射线源的控制和驱动电子元件,Rayonic可以在很短的时间内提供系列就绪的产品。
Rayonic技术在精密机械方面也有很大的需求,例如行程距离为1m,定位精度优于5微米的多轴样品扫描仪。
如果您也需要定制的解决方案和产品,请联系我们!
X射线荧光测量
测量钢带上金属涂层的厚度利用X射线荧光(XRF)效应。通过选择X射线源的工作参数,可以实现探测器的过滤器和测量几何形状的不同应用。
荧光辐射的能量是产生辐射的元素的特征。钢带中产生的辐射与涂层中产生的荧光辐射(例如锌)具有不同的能量。使用差分滤光片的方法可以选择辐射的一个或另一个分量进行测量。安装在测量头中的探测器模块在向后方向上检测选定的辐射分量,例如来自金属涂层的辐射。
涂层厚度的增加也增加了涂层的荧光辐射强度。测量荧光辐射的强度可以精确地确定涂层厚度。对于Zn / Al或Zn / Ni等二元合金的涂层,检测器模块分别测量来自两种元素的荧光辐射,因此可以确定总涂层厚度和涂层成分。
辐射厚度测量基于电离辐射在物质中的部分吸收。通过选择X射线源的能量,测量可以完美地适应要测量的材料和所需的测量范围。
在材料的另一侧,通过带状物的辐射强度通过合适的探测器进行测量。测量的辐射强度取决于吸收材料(Al,Fe,Zn等),辐射能量和吸收材料的厚度:
I=Ioe-μd
哪里:
I是用存在的材料测量的强度,
我o是设备中没有材料的强度,
µ是吸收系数,
d 是材料的厚度。
μ吸收系数取决于要测量的材料及其成分以及X辐射的能量分布。X射线源的一大优点是可以将辐射能量和吸收系数调整到所需的测量范围和材料特性。
因此,辐射测量非接触式测量方法以非常高的测量速率提供非常精确的厚度值,以实现自动控制和质量保证。因此,X射线测厚仪是生产设施(例如钢铁和铝工业中的轧机)在线非接触式厚度测量的首选。