POLYTEC轮廓仪TopMap Micro.View

POLYTEC轮廓仪TopMap Micro.View

TopMap Micro.View®

台式光学表面轮廓仪

台式光学表面轮廓仪

TopMap Micro.View是一款易于使用且紧凑的光学轮廓仪。将卓越的性能和经济性与这款强大的计量解决方案相结合。Micro.View 具有扩展的 100 mm Z 测量范围和 CST 连续扫描技术，能够以 nm 分辨率测量复杂的地形图。这种方便的桌面设置具有集成的电子元件，智能取焦器可简化和加快测量过程。

突出

在紧凑的设置中测量表面光洁度

非接触式测量 3D 形貌、粗糙度和纹理

采用 CST 连续扫描技术的 100 mm z 测量范围

出色的横向分辨率

从特定应用物镜中进行选择

占地面积小，功能更广

受益于可选的ECT环境补偿技术，即使在嘈杂和具有挑战性的生产环境中也能确保可靠和准确的测量结果。Micro.View是具有成本效益的质量控制仪器，用于检测制造和研究中的精密工程表面。

 精密测量关乎经验、专业知识以及我们信任的专家和技术。看看幕后，了解更多关于发展和TopMap背后的人，并与PolyXperts见面。快来加入我们的旅程吧！

TopMap Micro.View+ 是采用模块化设计的下一代光学表面轮廓仪，能够以最高的精度可靠地测量有关表面光洁度和微观结构的最具挑战性的分析任务。聚焦查找器和焦点跟踪器有助于始终保持样品聚焦，完全电动的定位单元可随时实现自动化。了解更多！

Polytec 的一体化 3D 光学测量解决方案。这款超精密白光干涉仪将用于粗糙度剖面的色度共聚焦传感器与多传感器系统中几何参数和形状偏差的面测量相结合。Pro.Surf+是测量具有大视场（FOV）的大型山毛的形貌的选择，同时也是以纳米分辨率表征结构细节的选择。