MAWI THERM 温度计 IR-R

MAWI THERM 温度计 IR-R

红外-R

黑色聚光灯系列 IR-R

用于校准 50 至 1450 °C 辐射温度计的黑体炉，具有相对较大的光束线开口。这些腔体发射器是与日本计量国家实验室（NRLM）合作开发的，符合最高标准。

我们也很乐意提供与这些聚光灯以及定点聚光灯一起使用的比较标准。

从辊子中分离出特殊的粘合膜，在高达370°C的测量温度下，在有问题的表面上实现高而稳定的发射率。

使用红外测温仪的非接触式温度测量技术的用户经常面临必须测量发射系数非常低的材料的表面温度的困难，或者经常根据温度，材料特性或生产方法改变其值。

典型的测量问题是铜导轨，高光抛光辊，铝迷你零件，半导体封装等的温度检测。

在此类问题情况下，一个有用的帮助是将我们的特殊薄膜涂在要测量的表面上。然后，该薄膜代表表面温度，其巨大优势在于可用于测量的高且恒定的发射率。用所使用的辐射温度计测量薄膜的表面。所需的薄膜表面取决于红外测温仪的相应光学条件。如果薄膜留在待测物体上，另一个优点是可以不断测量表面的同一位置，并且可以获得可重复的结果。

该薄膜可以粘在任何干净，无油脂和干燥的表面上。永久允许的最大表面温度可以为260°C。达到此温度极限，可确保完美的粘合性能。

可短暂升高至 370°C。

使用后薄膜可以很容易地剥离。由于薄膜上粘合剂的厚度仅为0.04 mm，因此表面上的粘合剂残留物很小。成功应用后的去除不会对测量对象造成任何损坏。

由于在上述温度下的特殊粘合性能，这种特殊薄膜还用于连接细线热电偶或表面温度传感器，以及用于在需要耐高温的工艺（例如粉末涂料）中覆盖表面。该薄膜具有阻燃性，并且耐辐射和耐化学品！

p热成像传感器用于固定的在线温度监控，并允许实时采集热图像。

设备交付范围内包含的非常易于使用的PC软件使系统能够运行，并通过LAN连接或1个带USB连接的传感器评估多达4个（可选32个）传感器的测量数据。

集成的报警限位触点还允许在没有 PC 连接的情况下独立运行。