INSTRUMENT SYSTEMS测试 NIST

INSTRUMENT SYSTEMS测试 NIST

阵列光谱辐射计在光度测定和辐射测量中性能的最大限制是仪器中杂散光的入射。换句话说，阵列探测器的某个元素被来自指定范围以外的光谱范围的辐射污染。在仪器系统的 CAS 系列功能强大的阵列光谱仪中，通过设计措施可有效抑制杂散光，从而从一开始就降低污染。

NIST 校正方法

根据NIST方法，剩余的残余杂散光可以借助可调谐激光器进行校正。这个想法是，激光线的单色辐射在大多数情况下可以分配给探测器的特定像素。

在该波长的带通函数之外测量的所有光都是从探测器中的所有其他像素看到的该像素的杂散光贡献。所有激发波长上检测到的总光谱产生器件特定的基质。如果减去实际信号的带通函数，则结果为杂散光矩阵。

杂散光校正 CAS 140D – 具有最高光学测功率和精度的阵列光谱仪

在校准过程中使用杂散光校正矩阵（可选）可进一步优化 CAS 140D 的良好杂散光值。因此，该测量仪器非常适合于精确测量UV-LED和确定光源的危险等级（光生物安全）。

在紫外、红外和蓝光范围内精确测定 LED

杂散光校正对光谱的影响在紫外和红外光谱范围内最为突出，因为阵列光谱仪的CCD探测器在边缘的灵敏度较低。将测量光谱除以参考光谱会增加由于杂散光污染光谱而导致的测量误差，特别是在灵敏度较低的区域。因此，杂散光校正直接导致辐射评估的精度更高，特别是UV-LED。

杂散光校正还提高了在可见光范围内确定色坐标的准确性。特别受益于杂散光校正的一个应用是从光生物安全性评估蓝光对人眼的危害。