INSTRUMENT SYSTEMS测量EOP-146

INSTRUMENT SYSTEMS测量EOP-146

EOP – 用于辐照度测量的光学探头

仪器系统提供一系列用于测量辐照度和通用辐射耦合的EOP。这些主要在光通量，余弦校正程度和光谱范围方面有所不同。所有EOP光学探头都包含一个用于散射入射光的扩散器。漫射器后面是光纤的入口刻面，光与该接口耦合到光谱仪中。

应用

对于一般应用，我们推荐使用光学探头EOP 120和EOP 121（横向光纤束连接器），因为它们在良好的余弦校正和良好的光通量之间提供了最佳的折衷方案。

测量扩展光源需要良好到非常好的余弦校正，尽管这总是以牺牲光通量为代价的。光学探头EOP-146是实现这一目的的正确选择。

光学探头 EOP 140 仅适用于需要高光通量的应用。EOP 542 型号可用于具有固定视场 （5.7°） 的测量，主要用于测量阳光直射。

仪器系统提供积分球ISP 40，以实现具有宽光谱范围的最佳余弦校正。由于球体的积分效应，无论其收敛或发散如何，整个光束都被捕获，并通过光纤束与光谱仪耦合。

产品版本

型

余弦校正

吞吐量

光谱范围

应用

带光纤束连接器

EOP-146

好

中等

190-2500纳米

扩展光源

EOP-120

中等

好

190-1700纳米

普遍

EOP-121

中等

好

190-1700纳米

通用扁平外壳

EOP-140

低

高

190-2500纳米

弱光束

EOP-542

不适用

高

190-2500纳米

5.7° 视场角

带 SMA 光纤连接器

EOP-350

非常低

高

190-5000纳米

红外范围

积分球

ISP40-101

非常好

低

220-2500纳米

用于紫外线测量的光谱涂层

ISP40-102

非常好

低

240-2600纳米

巴索4用于宽光谱范围的涂层

TOP 200 – 用于辐射和亮度测量的伸缩式光学探头

TOP 200 伸缩式光学探头基于 Pritchard 光学元件，带有一体式取景器摄像头。

特殊功能：

Pritchard光学元件的光圈反射镜倾斜度仅为15º，可提供完美的圆形和清晰的图像点

通过光纤与专利模式混合器进行灵活连接，以获得可重复的读数和极低的偏振灵敏度

可通过软件选择六种测量光斑尺寸

具有宽视场的内置取景器摄像头

最小测量点：80 μm

可选照明测试对象

TOP 150 是单孔径的低成本替代品。

应用

测量的辐射密度由 TOP 200 通过多模光纤耦合到光谱仪中。仪器系统公司获得专利的模式混合器可确保光纤中的均匀光传输，从而获得可重复的读数，即使光纤的位置发生变化也是如此。

Pritchard原理可以在测量过程中观察视场，并监控精确定位。取景器相机的图像由SpecWin Pro软件自动导入，并与读数一起保存。

产品版本

型

描述

基础单元和光纤

前200-100名

基于普里查德光学原理的基本伸缩光学探头，带电动光圈轮和集成式取景器相机（无镜头和光纤）

TOP200-203

多模光纤（长2.3米），带模式混合器和PLG适配器;300–2200 纳米

前200-204名

UV多模光纤（长度2.3 mm），带模式混合器和PLG适配器;190–1350 海里

前150-100名

基于Pritchard光学原理的基本伸缩光学探头，带单光圈和集成式取景器相机（无镜头和光纤）

镜头和特写镜头

前100-308名

固定镜头，28毫米焦距;F/2，8;370–1100 纳米

前100-311名

固定镜头，60毫米焦距;F/2，8;370–1100 纳米

前100-322名

固定镜头，105毫米焦距;F/4，8;200–800 纳米

LED 4xx – 用于 LED 的发光强度测量适配器

仪器系统公司开发了各种测量适配器，用于确定平均发光强度I发光二极管-B[cd] 的指示灯。这些根据可用的光谱范围（仅可见光或紫外线），测量几何形状和计划的应用（在实验室或生产中）而有所不同。

测量适配器包含一个扩散器，可形成精确 1 cm² 的灵敏检测器表面。扩散器后面是一个光纤束，借助该束，光束被耦合到光谱仪中。这种设计的特点是光通量高，探测器表面具有足够的均匀性。因此，LED-4xx 系列测量适配器特别适用于低光 LED，并用于快速生产测试。

应用

LED 4xx 测量适配器可接受 LED 5xx、LED 6xx 和 LED 81x 系列的所有测试插座。夹紧机构可确保 LED 始终可重复且精确对准。测量适配器的缩短版本可用于生产（例如，安装在LED处理机上）。

对于需要最高精度的应用，根据CIE 127开发了光学探头LED 25，用于确定“平均LED强度”。后者基于积分球，因此在整个探测器表面上提供均匀的光灵敏度，尽管光通量降低。

产品版本

型

光谱范围

测量几何形状

类型

用于实验室应用的测量适配器（带 LED 测试插座）

发光二极管-436

可见光

CIE ILED-B

扩散器

发光二极管-437

紫外-可见-近红外

发光二极管25-431

紫外-可见-红外

CIE ILED-B

积分球

用于生产应用的缩短测量适配器

发光二极管-433

可见光

CIE ILED-B

扩散器

发光二极管-434-B

紫外-可见-近红外

发光二极管-453

可见光

0.01 sr 在 50 mm 测量距离

发光二极管-454

紫外-可见-近红外

发光二极管-439

用于 LED-43x 和 LED-45x 适配器的延长件

发光二极管25-235

CIE ILED-B

积分球