日本三丰378系列半导体检测用显微镜FS70Z的特点： 1.  此光学系统最初是为畅销的FS60型(后升级为FS70型)而开发的。它作为测量检测半导体器件的显微镜是很理想的。 2.  FS70L支持3种YAG激光波长(1064nm,532nm,355nm)，FS70L4支持2种波长(532nm,266nm)，可在半导体和液晶基板中使用激光切割和薄膜技术。这就扩大了激光的使用范围。然而，使用三丰量具对显微镜的激光系统的性能和安全性，三丰公司不负责任。我们推荐在选购激光发射器时应仔细检查。 3.  FS70Z的标准功能有：亮视场，微分干涉对比(DIC)和偏振观测。FS70L和FS70L4不支持DIC。 4.  使用内置式转换器使得长工作距离物镜的操作很简单。 5.  极易操作的设计：FS70采用正像光学系统(视场中的像与样品方向相同) 并用橡胶把手加大微调手轮。